主な機能
- PHEN-5670 - Appleデバイスのバッテリーに「著しく劣化」と表示されている場合に通知する（フェーズ1）
- バッテリーの状態が良くない場合にはバッテリー警告のポップアップを表示します。
- PHEN-9446 - 時間に基づく iOS ファームウェア ファイルの自動削除。
- この機能は、BMDEシステム設定、ストレージクリーンアップで使用できます。
- PHEN-12393、PHEN-12340 - Androidの消去方法を最適化して、デバイスの処理を高速化します。Androidの接続後の準備処理の改善（フェーズ2）を行いました。
- PHEN-11951 - IMEI データベースでIMEIとIMEI2の両方を使用してレコードをスキャン
- IMEI1と一致しない場合にIMEI2を用いてデータベースを検索します。
- PHEN-12185 - コンパクトカードビューの動的フィールド（ヘッダーなど）に機種名のほか商品名も表示
- Androidデバイスの詳細情報に商品名も加わります。
- PHEN-10590 - 不完全なBMDE処理の表示または通知
- デバイスが途中で切断された場合にユーザーに通知します。
- PHEN-11100 - ハブマッピングのリストビューへの適用
- デバイスカードのUIのスタイルを変更して改善を図りました。
- PHEN-12439 - ラベル印刷用の汎用デバイスシリアルの長さを定義するオプション
- 汎用デバイスのシリアルの長さを調整できます。
- PHEN-12009 - IMEIデータベースの選択可能な検索アルゴリズム
- 検索アルゴリズムの選択は、設定、入力＆編集で行えます。
- 検査アプリのメンテナンス - Appleデバイス向けのプロビジョニングプロファイルの有効期限はDiagアプリバージョン 4.15で2025年9月4日です。
- SD-6060 - iOSバッテリー消耗テストの改善
- エキスパートモードを指定した際は自動的に、トレーニングモードを指定した際は手動で開始します。
- SD-6181 - 検査アプリの質問で複数選択をサポート
- あらかじめ複数の回答を質問を設定しておき、実行時に選択できます。
- SD-6071 - iOSバッテリー消耗テストの閾値超過時失敗
- テストタイムアウト時間が経過する前の時点で事前設定された閾値を超えた場合には自動的にテストを終了し、結果を失敗として報告します。
- SD-6228 - USBテストとUSBバッテリー充電テストのバックグラウンド実行（デバイスがUSB接続されている場合）
- テスト実行時点でデバイスがUSB接続されている場合にはこれらテストをバックグラウンドで実行します。
バグ修正
- PHEN-12498 - Android erasure failure "Administrator-privileges could not be gained on the device"
- PHEN-10860 - PARTS AUTHENTICATION not getting all entries from Apple device "PARTS AND SERVICE HISTORY"
- PHEN-10360 - Stuck on "CHECKING LICENSE"
- PHEN-12553 - Android SIM status suddenly change after a few minutes
- PHEN-12456 - Changes in test results during label printing not taken into account
- PHEN-11399 - iOS 17.0.2 workflow hangs right after a successful Apple iOS Erasure
- PHEN-12530 - IMEI Database Lookup results in “Not found”
- PHEN-12299 - Duplicate UUID Issue
- PHEN-12648 - When using Android express setup a Knox enrolled Samsung A23 5G it shows initially as locked and after USB debugging is enabled shown as unlocked
- PHEN-12638 - Errors with Image validation BMDE
- PHEN-12719 - ATT Ness (U655AA) Failing image validation
- PHEN-12748 - Image Validation Failing on ATT SN509A devices.
- PHEN-12508 - Cannot get IMEI of Google Pixel
- PHEN-12495 - Xiaomi fails Wifi Config
- PHEN-11294 - iOS devices bypassing functional testing
- PHEN-12483 - Question popups for devices being processed are overlapping in Grid views when predefined answers dropdown is enabled
- PHEN-12619 - False MDM status detected
- PHEN-12792 - Non-genuine Apple Components Not Reported in BMDE: Apple iPhone 13
- PHEN-12334 - BMDE Issue - Reported Storage incorrect
- PHEN-12644 - BMDE Unable to Install App
- PHEN-12835 - JSON payload cannot start with square bracket in server message blob
- PHEN-12805 - Blancco is not always capturing the AA model for Apple Units
- PHEN-11871 - Allow ServerValue's in Print labels
- PHEN-12811 - Pico Neo 3 failed to delete SMS/MMS data
- SD-6384 - BMDE App Skipping Automatic Tests
- SD-6221 - Photo inverted on Crosscall devices
- SD-6260 - Vibration test not working properly on iOS
- SD-6264 - Diag app crashes during camera test
- SD-6392 - Diagnostics - Unfolded Screen Test does not pass even after pressing Next button
- SD-6276 - Microphone Test Failure (Doesn't follow from station to station)
- SD-6343 - Vibration test doesn't work and Microphone tests are re-done unnecessarily
備考
このリリースから新しいiPad Air (2024) とiPad Pro (2024) をサポートします。
Android FR（ベリファイ無し）は数秒で準備完了します。
高速設定後、Androidデバイスの「Google Playプロテクト」がBlanccoの検査アプリを「安全でないアプリ」として検出します。ここで、ユーザーはインストールを続行するために「とにかくインストール」 (Install anyway) オプションを選択する必要があります。
既知の不具合